江西省纳米技术研究院

搜索

|

Copyright © 江西省纳米技术研究院 版权所有

赣ICP备17004909号-1  Email:chenke2016@sinanonc.cn

联系地址:江西省南昌市小蓝经济技术开发区罗珠路278号(金湖公园对面)                        网站建设:中企动力 南昌

INNOVATION

创新创业

政策倡导、共同协调、资源整合、行业自律

>
>
6英寸Si衬底高质量AlGaN/GaN HEMT结构异质外延

6英寸Si衬底高质量AlGaN/GaN HEMT结构异质外延

产品名称

6英寸Si衬底高质量AlGaN/GaN HEMT结构异质外延

概要信息
编号
重量
0.00
零售价
0.00
市场价
¥0.00
没有此类产品
产品描述

 

       传统的硅(Si)功率器件因材料限制逐渐不能满足未来功率电子器件的发展趋势。作为重要的第三代宽禁带半导体材料GaN,因其禁带宽度大、击穿电场高,异质结二维电子气浓度高、电子饱和漂移速度高,且化学惰性和高温稳定性好,从而能够获得很高的击穿电压和功率密度以及极高的工作频率,较小的开关损耗。
       基于AlGaN/GaN异质结构的增强型HEMT器件的制备是实现GaN基功率电子器件实际应用的必经之路,也是技术难点。由于各种因素的限制,在大尺寸晶圆上实现均匀、稳定、重复、低损伤的干法刻蚀工艺非常困难。在此背景下,本项目团队提出了一种具有自主知识产权的制备p-GaN栅HEMT新技术,它避免了刻蚀损伤,采用平面工艺钝化的原位高阻GaN帽层可提高器件耐压、抑制电流崩塌,且工艺成本低廉,具有极大的市场应用潜力。
未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加
暂未实现,敬请期待
暂未实现,敬请期待